透射比测量仪

TheTOBIAS透射比测量仪TBX2000测量ISO视觉漫反射光学密度(OD)至6.60D.较宽的测量范围允许对多种类型的材质如薄膜，层压板和基板进行评估.该设备带有一个2.00D的校准标准但有一个可选的校准标准值需要购买。此外，TBX1500还可以测量正点和负点区域；TBX2000测量不透明度百分比和透射度。数据可以通过USB端口（配件需另外采购）上传电子表格。TBX™可以显示所有函数的存储参考值的偏差。  

特点：  

·软键菜单操作；  

·先进的光学系统，满足各行业的规格要求；  

·7.5英寸平台，可测量大样本；  

·读数可重复高；  

·可选带通滤波器；  

·USB端口标准；  

·软件校准；  

·可切换LED灯；  

·TOBIAS透射比测量仪TBX2000非常适合测量金属薄膜的光学密度。  

规格：  

光学设计：ANSIPH2.19；  

显示器：GraphicalLCD(128x64pixel)；  

孔径：1,2,3mm；  

尺寸：3(L)x9(W)x4.5(H)inches(330x229x114mm)；  

长度(臂).：7.5inches(191mm)；  

输出端：USB；  

电源：12Vviauniversal110/220VACAdapter；  

测量范围：0to6.60D；  

准确度：±0.02D；  

精度：±0.01D；  

预热时间：None。

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