赛默飞世尔X射线测厚仪

赛默飞世尔X射线测厚仪特点：
•0.5毫秒测量速度
•水冷式测量头
•可定制的C型架
•实时诊断
•工厂计算机柔性接口
•触摸式操作界面
RM215HM测厚仪具有灵活、坚固的平台，在非接触式金属带材厚度测量方面显示了好的性能。这些测量可以用于工厂的手动控制、自动仪器控制（AGC）或者自适应控制。
RM215HMC型架和传感器是为热轧工艺里的高温、侵蚀性湿气和恶劣环境而专门设计的。温度补偿装置和合金补偿装置确保了测量的精确性。可选择的凸度测量功能可以用来进行板型控制以及后续的形状控制。
RM215HM的通讯接口可以连接至多种控制系统。取得每卷带钢的统计数据对这些应用十分重要。在可逆式轧机的双配置情况下，控制系统可以根据厚度数据的反馈和前馈进行控制。
通过提供测量值的绝对值或与目标厚度的偏差值的实时反馈，提高您产品的质量。快速的测量方法及重要的统计数据将优化生产控制，令您从中获益。
X射线测厚仪https://www.chem17.com/st518350/product_36704548.html