回收TEK370B泰克晶体管测试仪

TEK370B泰克晶体管测试仪

附加的功能：
使用 370B 进行高分辨率直流参数测量（分辨率低至 1 pA 或 2 µV）
使用 371B 提供高电压和电流（高达 3,000 V 或 400 A）
内置光标测量 - 点、窗口和功能线
开尔文感应测量
扫描测量模式
波形比较和平均
完全可编程
1.44 MB 软盘驱动器存储曲线的设置和位图
使用第三方打印机直接硬拷贝
半导体的参数表征
故障分析
数据表生成
制造测试
过程监控和质量控制
即将到来的检查
组件匹配
泰克 370B 提供高达 20 A/2,000 V 的输出能力以及 1 pA 和 50 micro V 的测量分辨率。370B 对集成电路、晶体管、晶闸管、二极管、可控硅、MOSFET、光电元件、太阳能电池、固态继电器和其他半导体器件进行直流参数表征。它具有按钮源和测量配置，因此可以轻松地从一个测试更改为下一个测试。