KDK-LT-1少子寿命测试仪

频光电导少子寿命测试仪/少子寿命测试仪 型号：KDK-LT-1

1、 用途

用于硅、锗单晶的少数载子寿命测量，除需要有个测量平面外，对样块体形无严格要求，可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体内重金属杂质污染及缺陷存在的情况，是单晶质量的重要检测项目。

2、 设备组成

2.1、光脉冲发生装置

重复频率>25次/s 脉宽>60μs 光脉冲关断时间<0.2-1μs

红外光源波长：1.06～1.09μm(测量硅单晶) 脉冲电：5A～20A

如测量锗单晶寿命需配置适当波长的光源

2.2、频源

频率：30MHz 低输出阻抗 输出功率>1W

2.3、放大器和检波器

频率响应：2Hz～2MHz

2.4、配用示波器

配用示波器：频带宽度不低于40MHz，Y轴增益及扫描速度均应连续可调。

3、测量范围

KDK-LT-1可测硅单晶的电阻率范围：ρ≥3Ω·㎝(欧姆·厘米),寿命值的测量范围：5～6000μs

更多详情请前往：

http://www.had200911.cn/had200911-SonList-1454106/

https://www.chem17.com/st154071/erlist_1454106.html