品牌横河 | 有效期至长期有效 | 最后更新2021-04-27 18:51 |
是否进口是 | 加工定制可加工 | 显示方式LED多功能显示 |
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AQ6370C横河电机光学分析仪
AQ6370C横河电机光学分析仪
附加的功能:
波长范围:600至1700nm
高波长精度:±0.01nm
高波长分辨率:0.02nm
宽动态范围:典型值为78dB。
宽电平范围:+20至-90dBm
快速测量:0.2秒。(100nm跨度)
适用于单模和多模光纤
标准和高性能模型
有两种型号,标准和高性能。高性能模型可提供更高的波长精度和动态范围。高波长分辨率:0.02nm
规格
高波长精度:±0.01nm
高性能型号:±0.01nm(C波段)
标准型号:±0.02nm(C + L波段)
波长范围
标准(-10)
1520至1580 nm:±0.02 nm
1580至1620 nm:±0.02 nm
1450至1520 nm:±0.04 nm
全范围:±0.1 nm
高性能(-20)
1520至1580 nm:±0.01 nm
1580至1620 nm:±0.02 nm
1450至1520 nm:±0.04 nm
全范围:±0.1 nm
超高动态范围:典型值78dB。
通过减少单色仪中的杂散光,AQ6370C实现了典型的超高动态范围。78分贝。
标准(-10)
峰值±1.0 nm:73 dB
峰值±0.4 nm:62 dB
峰值±0.2 nm:45 dB
高性能(-20)
峰值±1.0 nm:73 dB(典型值78dB)
峰值±0.4 nm:64 dB(典型值70dB)
峰值±0.2 nm:50 dB(典型值55dB)
滤镜边缘更清晰
高性能模型还可以在峰值波长的0.2nm范围内实现更高的动态范围。借助单色仪更清晰的光谱特性,可以清晰地分离并精确测量附近的光谱信号。
标准(-10)
峰值±0.2 nm:55 dB
峰值±0.1 nm:37 dB
高性能(-20)
峰值±0.2 nm:58 dB(典型值60dB)
峰值±0.1 nm:45 dB(典型值50dB)
杂散光抑制比:典型值80dB。
当不使用通常需要较长测量时间的高动态模式时,此新规范提供了杂散光抑制功能。AQ6370C具有高杂散光抑制比,有助于缩短测量时间。
标准(AQ6370C-10):73dB
高性能(AQ6370C-20):76dB(典型值80dB)
宽电平范围:+ 20DBm至-90dBm
AQ6370C可以测量高功率源,例如拉曼放大器的光放大器和泵浦激光器,以及非常弱的光信号。根据测试应用和测量速度要求,可以从七个类别中选择测量灵敏度。
改进的电平灵敏度:-85dBm(1000至1300nm)
平滑功能-减少测量频谱上的噪声
高动态模式-通过减少杂散光的影响来获得更好的动态范围,杂散光的影响是在输入为强光信号时引起的。
自由空间输入
同一OSA上的多模和单模光纤:AQ6370C对多模光纤的低插入损耗也有利于保持出色的测量效率
输入连接器的插入损耗变化小,可提高测量的可重复性
由于没有物理接触,所以不会损坏连接光纤
APC水平校正
APC电平校正功能校正由倾斜PC连接器的插入损耗引起的电平偏移
出色的效率
快速扫描:0.2sec./100nm
凭借先进的单色仪,更快的电路和降噪技术,即使从DFB-LD或DWDM信号测量陡峭光谱,或从宽带光源测量低功率信号时,AQ6370C仍可实现快速测量速度。
快速远程接口(以太网,GP-IB)
宽扫宽而高分辨率
50001个数据采样点可在一次扫描中扩展测量范围,同时保持较高的波长分辨率。与常规系统相比,这使您的测量更轻松,更高效。
操作简便
轨迹缩放
通过单击并拖动鼠标来更改显示条件,例如中心波长和跨度
立即扩大您的兴趣范围并随意移动
鼠标和键盘操作
我们的许多用户证明前面板操作直观且易于使用
鼠标更轻松
键盘可帮助输入标签和文件名
方便的数据处理
USB存储:USB接口支持大容量可移动内存和硬盘驱动器。
512MB内部存储器,可记录超过20,000条迹线
一次性跟踪归档:可以一次将所有七个跟踪保存在一个文件中。
各种分析功能
7条单独痕迹
同时显示多迹线
迹线之间的计算(迹线之间的减法)
z大/z小保持
13种常用分析的光谱分析功能,例如:
光谱宽度分析
WDM(OSNR)分析
WDM-NF(EDFA)分析
DFB-LD分析
FP-LD分析
LED分析
SMSR分析
各种过滤器分析
通过宏编程,可以将多个分析合并并自动执行。
建立自动化测试系统
宏编程
无需外部控制器即可构建简单的自动测量系统。
通过记录用户的实际按键和参数选择,可以轻松创建测试程序。
快速远程接口
GP-IB,RS-232和以太网(10 / 100base-T)接口
通过快速的测量,命令处理和数据传输速度来提高测试系统的测试吞吐量。
兼容SCPI的命令和AQ6317仿真模式
LabVIEW®驱动程序可用
易于保持准确
光学精密产品(如光谱分析仪)的环境条件变化,振动和冲击会影响光学组件,并z终降低光学性能。使用标准功能,AQ6370C可以在几分钟内保持其高光学性能,因此您可以快速开始测量。
内置波长参考源:AQ6370C配备了用于波长校准和光学对准的波长参考源。
波长校准功能:使用内置波长参考或外部光源自动校准,以确保波长精度。
光学对准功能:使用内置光源自动对准单色仪中的光路,以保持高性能。
AQ6370C的整体高性能不仅可以覆盖光学设备和光学传输系统的制造,而且还可以进行研发以及多种其他应用:
光学有源设备
激光二极管/光纤激光器/光放大器/光收发器
光学无源设备
滤波器/ FBG / AWG / WSS / ROADM /光纤
光学传输设备(DWDM,CWDM)
应用光子学设备的开发支持
附加的功能:
波长范围:600至1700nm
高波长精度:±0.01nm
高波长分辨率:0.02nm
宽动态范围:典型值为78dB。
宽电平范围:+20至-90dBm
快速测量:0.2秒。(100nm跨度)
适用于单模和多模光纤
标准和高性能模型
有两种型号,标准和高性能。高性能模型可提供更高的波长精度和动态范围。高波长分辨率:0.02nm
规格
高波长精度:±0.01nm
高性能型号:±0.01nm(C波段)
标准型号:±0.02nm(C + L波段)
波长范围
标准(-10)
1520至1580 nm:±0.02 nm
1580至1620 nm:±0.02 nm
1450至1520 nm:±0.04 nm
全范围:±0.1 nm
高性能(-20)
1520至1580 nm:±0.01 nm
1580至1620 nm:±0.02 nm
1450至1520 nm:±0.04 nm
全范围:±0.1 nm
超高动态范围:典型值78dB。
通过减少单色仪中的杂散光,AQ6370C实现了典型的超高动态范围。78分贝。
标准(-10)
峰值±1.0 nm:73 dB
峰值±0.4 nm:62 dB
峰值±0.2 nm:45 dB
高性能(-20)
峰值±1.0 nm:73 dB(典型值78dB)
峰值±0.4 nm:64 dB(典型值70dB)
峰值±0.2 nm:50 dB(典型值55dB)
滤镜边缘更清晰
高性能模型还可以在峰值波长的0.2nm范围内实现更高的动态范围。借助单色仪更清晰的光谱特性,可以清晰地分离并精确测量附近的光谱信号。
标准(-10)
峰值±0.2 nm:55 dB
峰值±0.1 nm:37 dB
高性能(-20)
峰值±0.2 nm:58 dB(典型值60dB)
峰值±0.1 nm:45 dB(典型值50dB)
杂散光抑制比:典型值80dB。
当不使用通常需要较长测量时间的高动态模式时,此新规范提供了杂散光抑制功能。AQ6370C具有高杂散光抑制比,有助于缩短测量时间。
标准(AQ6370C-10):73dB
高性能(AQ6370C-20):76dB(典型值80dB)
宽电平范围:+ 20DBm至-90dBm
AQ6370C可以测量高功率源,例如拉曼放大器的光放大器和泵浦激光器,以及非常弱的光信号。根据测试应用和测量速度要求,可以从七个类别中选择测量灵敏度。
改进的电平灵敏度:-85dBm(1000至1300nm)
平滑功能-减少测量频谱上的噪声
高动态模式-通过减少杂散光的影响来获得更好的动态范围,杂散光的影响是在输入为强光信号时引起的。
自由空间输入
同一OSA上的多模和单模光纤:AQ6370C对多模光纤的低插入损耗也有利于保持出色的测量效率
输入连接器的插入损耗变化小,可提高测量的可重复性
由于没有物理接触,所以不会损坏连接光纤
APC水平校正
APC电平校正功能校正由倾斜PC连接器的插入损耗引起的电平偏移
出色的效率
快速扫描:0.2sec./100nm
凭借先进的单色仪,更快的电路和降噪技术,即使从DFB-LD或DWDM信号测量陡峭光谱,或从宽带光源测量低功率信号时,AQ6370C仍可实现快速测量速度。
快速远程接口(以太网,GP-IB)
宽扫宽而高分辨率
50001个数据采样点可在一次扫描中扩展测量范围,同时保持较高的波长分辨率。与常规系统相比,这使您的测量更轻松,更高效。
操作简便
轨迹缩放
通过单击并拖动鼠标来更改显示条件,例如中心波长和跨度
立即扩大您的兴趣范围并随意移动
鼠标和键盘操作
我们的许多用户证明前面板操作直观且易于使用
鼠标更轻松
键盘可帮助输入标签和文件名
方便的数据处理
USB存储:USB接口支持大容量可移动内存和硬盘驱动器。
512MB内部存储器,可记录超过20,000条迹线
一次性跟踪归档:可以一次将所有七个跟踪保存在一个文件中。
各种分析功能
7条单独痕迹
同时显示多迹线
迹线之间的计算(迹线之间的减法)
z大/z小保持
13种常用分析的光谱分析功能,例如:
光谱宽度分析
WDM(OSNR)分析
WDM-NF(EDFA)分析
DFB-LD分析
FP-LD分析
LED分析
SMSR分析
各种过滤器分析
通过宏编程,可以将多个分析合并并自动执行。
建立自动化测试系统
宏编程
无需外部控制器即可构建简单的自动测量系统。
通过记录用户的实际按键和参数选择,可以轻松创建测试程序。
快速远程接口
GP-IB,RS-232和以太网(10 / 100base-T)接口
通过快速的测量,命令处理和数据传输速度来提高测试系统的测试吞吐量。
兼容SCPI的命令和AQ6317仿真模式
LabVIEW®驱动程序可用
易于保持准确
光学精密产品(如光谱分析仪)的环境条件变化,振动和冲击会影响光学组件,并z终降低光学性能。使用标准功能,AQ6370C可以在几分钟内保持其高光学性能,因此您可以快速开始测量。
内置波长参考源:AQ6370C配备了用于波长校准和光学对准的波长参考源。
波长校准功能:使用内置波长参考或外部光源自动校准,以确保波长精度。
光学对准功能:使用内置光源自动对准单色仪中的光路,以保持高性能。
AQ6370C的整体高性能不仅可以覆盖光学设备和光学传输系统的制造,而且还可以进行研发以及多种其他应用:
光学有源设备
激光二极管/光纤激光器/光放大器/光收发器
光学无源设备
滤波器/ FBG / AWG / WSS / ROADM /光纤
光学传输设备(DWDM,CWDM)
应用光子学设备的开发支持