低温试验GBT2423.1CNAS和CMA检测报告

GB/T2423.1-2008：低温试验标准化执行指南

北京仪综所检测中心是具备CNAS与CMA双重资质的试验机构，具备GB/T2423.1-2008《电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温》低温可靠性检测能力，本标准等同采用IEC 60068-2-1:2007国际标准，是各类电工电子产品研发验收、生产质检、市场准入的核心检测依据。

标准规定两大核心类别：一是非散热试验样品，即试验过程中自身无热量产生的产品，涵盖电阻、电容等基础电子元器件，以及聚乙烯、聚丙烯等产品配套包装材料，此类样品检测重点聚焦低温环境下的物理及化学稳定性；二是散热试验样品，定义为温度稳定时，表面z热点温度高于周围空气5K（等同于5℃）以上的产品，典型包括电机、变压器、车载电子设备、工业控制模块等，此类样品需重点考量自身散热与低温环境的交互影响。

本标准仅用于评估产品低温环境下的使用、运输及贮存适应性，不涉及温度交替变化耐受性检测，关于温度变化试验需求可依据GB/T2423.22标准执行，我机构可提供全流程检测服务。

GB/T2423.1-2008结合样品特性明确的3种试验方法，我机构均已实现标准化落地，全程可追溯、可复核：

1. 试验Ab（非散热样品温度渐变低温试验）：应用z广泛的基础检测方法，严格控制降温速率≤1K/min，模拟产品自然降温场景，适配大多数电子元器件的贮存、运输低温可靠性检测。

2. 试验Ad（散热样品温度渐变低温试验）：与试验Ab流程协同，核心优化气流速度调控，结合样品散热特性适配，依托控温设备，规避样品自身热量对检测结果的干扰。

3. 试验Ae（散热样品通电低温试验）：专为持续运行设备设计，全程保持样品通电状态，重点检测车载导航、工业控制器等产品低温运行稳定性，契合工业级检测需求。

我机构严格按照GB/T2423.1-2008要求，建立全流程闭环检测体系，每一步均符合标准要求。实现检测全流程可追溯；试验恢复环节，将样品置于标准环境恢复2小时，待常温后开展性能检测，规避凝露、热胀冷缩等因素影响，确保数据真实有效。

规范出具报告， CNAS+CMA资质要求检测报告需具备完整、可追溯的核心特质，结合GB/T2423.1-2008标准要求，我机构出具的低温试验报告，严格遵循资质规范编制，可直接用于产品合规验收、市场准入及质量追溯，全国认可、国际互认：

1. 基础信息：清晰标注标准编号、样品信息、试验日期及我机构CNAS+CMA资质编号；

2. 试验条件：明确记录试验方法代号、目标低温等关键参数，全程对应资质认可规范；

3. 样品信息：完整涵盖样品数量、初始状态等溯源依据；

4. 试验结果：详细列明检测数据，出具明确合格判定结论，加盖CNAS+CMA检测专用章，具备法律效力；

我机构拥有经验丰富、持证上岗的专业检测团队，配备标准化试验场地与检测设备，以GB/T2423.1-2008等国标为准则规范开展电工电子产品低温试验，助力企业提升产品可靠性，筑牢市场竞争核心优势。

北京仪综所检测中心全称机械工业仪器仪表综合技术经济研究所测量控制设备及系统实验室，实验室位于北京市西城区广安门外大街甲397号，测试找张工。