TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱仪的功能

　　KoreSurfaceSeerI是一款高灵敏度的TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱仪，具有高通量分析功能，可用于绝缘、导电表面的成像分析与化学成分分析。SurfaceSeerI是研究表面化学的理想选择，适用于研发和工业质量控制应用。

　　TOF-SIMS飞行时间二次离子质谱仪主要通过离子源发射离子束溅射样品表面进行分析。离子束作为一次离子源，经过一次离子光学系统的聚焦和传输，到达样品表面。样品表面经过溅射，产生二次离子，系统将产生的二次离子提取和聚焦，并将二次离子送入离子飞行系统。在离子飞行系统中，不同种类的二次离子由于质荷比不同，飞行速度也不同，在飞行系统分离，通过检测这些离子进行相关分析。

　　SurfaceSeerI仪器特点：

　　配备25KV液态金属离子枪（LMIG）作为主要离子源，检测能力更强，质量分辨率更高；

　　具备表面成像和深度剖析功能；

　　提供的SIMS材料谱库包含上千种材料的质谱数据，可识别未知的化合物和材料；

　　可同时分析所有元素及有机物，可消除有机物和元素干扰，使谱图更清晰，检测限更低，能更有效地分析材料样品。

　　专用数据处理软件允许分析数据和样品的化学构成信息进行全面的交互提取，其所有储存的数据都能用于溯源性分析。

　　表面分析灵敏度高达1x109atoms/cm2

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